Според чуждестранни медийни съобщения, японски производител на светлинен детектор Хамамацу Photonics е разработил високоскоростна система за инспекция, която може бързо да провери качеството на микро-LED чипове на вафла.
Съобщава се, че системата за откриване се нарича МНИ Л. Той използва фотолуминесцентна тестова технология (PL) за откриване на аномалии във външния вид, интензитета на светлината и дължина на вълната на LED чипове. Използваната технология за фотолуминесценция се основава на технологията за обработка на изображения на Хамамацу Фотон и новата Модулът за изображения разработен.
Photonics Hamamatsu заяви, че системата MiNY PL може бързо да определи дали чипът е квалифицирани при тестването на микро-LED чипове, което е благоприятна за подобряване на добива на микро LED продукти за дисплей и ефективността на Micro LED R&d.
В допълнение, системата MiNY PL ще опрости 100% от процеса на инспекция по линията за масово масово производство Micro LED в бъдеще.
Случайно, наскоро имаше новини, че Apple разработва система за проверка micro LED и е получила съответните патенти.
Системата на Apple открива и точно открива качеството на микро-LED чипа, преди да бъде прехвърлен на дисплея. Целта е също така да се намали процентът на дефектите и загубата на производствения процес, като по този начин се подобрява надеждността на дисплея и се гарантира качеството на продукта.
Micro LED размер се свива, броят на използваните чипове и натоварването на процеса на прехвърляне на свързване са значително увеличени. Ако скоростта на чип дефект е твърде висока, това ще намали добива на продукция от последващите процеси, ще увеличи натоварването на преработващата промишленост и общата цена. Затова е особено важно да се контролира добивът на продукция от предния край на процеса, като например откриването на качеството на чипа, но това е и една от трудностите в индустрията на Микро LED.
За тази цел много производители на оборудване са увеличили своите усилия за изследвания и разработки на микро-LED тестване оборудване, и текущият напредък е неравномерно. Независимо от конкретните детайли, съответните новини сега показват, че е имало пробив в връзката за проверка на качеството на чипа, което е чудесна новина за индустрията на Micro LED.